N.C.S.R. "Demokritos"

Έρευνα

Τομέας Επιστήμης Υλικών

small logo

Περίθλαση από πολυκρυσταλλικά δείγματα

Η τεχνική της περίθλασης από πολυκρυσταλλικά δείγματα (XRD) χρησιμοποείται για το χαρακτηρισμό δειγμάτων εργαστηριακής, βιομηχανικής, γεωλογικής, αρχαιολογικής και φαρμακευτικής προέλευσης. Τα δείγματα μπορούν να μετρηθούν σε επίπεδους δειγματοφορείς σε περιθλαθίμετρο με γεωμετρία Bragg Brentano (D500-SIEMENS) ή σε περιθλασίμετρο με γεωμετρία Debye-Scherrer (Rigaku R-axis SPIDER). Στη δεύτερη περίπτωση το περιθλασίγγραμμα καταγράφεται σε διδιάστατη ανιχνευτική επιφάνεια (Image Plate). Τα διαγράμματα περίθλασης αναλύονται είτε με τη μέθοδο Rietveld προκειμένου να γίνει η πλήρης κρυσταλλογραφική μελέτη ενός δείγματος είτε με αξιοποίηση βάσεων δεδομένων με πρότυπα διαγράμματα περίθλασης προκειμένου να ταυτοποιηθούν οι κρυσταλλικές φάσεις που περιέχονται στο δείγμα.

Η μέθοδος Rietveld είναι μια χρήσιμη μέθοδος για την ανάλυση των διαγραμμάτων περίθλασης και την έχουμε αξιοποιήση στη μελέτη κυρίως σκληρών μαγνητικών και υπεραγώγιμων υλικών. Σαν ένα παράδειγμα αναφέρουμε τον προσδιορισμό της ορθής Ομάδας Συμμετρίας Χώρου (Ο.Σ.Χ.) της σκληρής μαγνητικής φάσης Nd3 (Fe ,Ti)29, με βάση την ανάλυση διαγραμμάτων περίθλασης από εργαστηριακή πηγή με τη μέθοδο Rietveld. Η ανάλυση με την ίδια μέθοδο διαγραμμάτων περίθλασης υψηλής ανάλυσης από πειράματα σκέδασης Νετρονίων της ίδιας μαγνητικής φάσης και της νιτριωμένης της οδήγησαν στο ίδιο συμπέρασμα όσον αφορά την Ο.Σ.Χ. της δομής καθώς και στον προσδιορισμό των πολυέδρων Wigner-Size για κάθε κρυσταλλογραφική θέση. Ο προσδιορισμός του πολυέδρου που χαρακτηρίζει κάθε κρυσταλλογραφική θέση και βασίζεται στη σχετική θέση των πλησιέστερων γύρω από αυτή είναι ένα πολύ χρήσιμο εργαλείο για την συγκριτική μελέτη φάσεων με παρόμοια κρυσταλλική δομή.

Τομέας Επιστήμης Υλικών, Ε.Κ.Ε.Φ.Ε. "Δημόκριτος", 153 10 Αγ. Παρασκευή, Αττική, τηλ.: +30 2106503381, fax: +30 210 6519430
Contact Us | ©2008 Institute of Materials Science, N.C.S.R. "Demokritos"